1. 功能及应用场景介绍

“Tamper” 检测功能存在于 STM32 芯片各个系列中，其主要应用场景为： 安全/机密应用场景下的物理破坏检测，且在入侵发生时可自动清空敏感数据

其功能特性总结如下：

• 支持过滤的多种类型 Tamper 事件输入（外部 GPIO PIN 中断 或 内部某些事件）
• 提供一定数量的 Backup Registers 或 Backup SRAM 用于存储敏感数据
• Backup Registers、Backup SRAM 数据在 VDD 失效或系统重置时不会丢失（需要 VBAT 工作），但在检测到 Tamper 事件时自动清空该数据
• 检测到任意 Tamper 事件时， RTC 时钟可产生一个 Timestamp 事件
• 在主要外设关闭情况下，以极低功耗运行（VBAT 备用电池供电，stand by、sleep 等模式下，仅保留一个低速外部时钟，Cortex 核以及大部分外设被关闭）

2. 比 GPIO 外部中断 (EXTI) 方案有哪些优劣？

• 优势：

  • EXTI 需要 GPIO 口时钟和 Cortex 核心正常工作，无法实现极低功耗下的破坏检测；
  • 硬件支持的 Tamper 特性可以保证 Backup Registers 和 Backup SRAM 在事件发生时及时被清空，比软件实现更靠谱

• 劣势

  • 需要 VBAT 脚通过电池供电

3. 参考资料

• STM32 Backup Registers/SRAM 读写
• RM0368: STM32F401xB/C and STM32F401xD/E advanced Arm®-based 32-bit MCUs
• Youtube: Security Part3 - STM32 Security features - 21 - Tamper theory
• Youtube: Security Part3 - STM32 Security features - 22 - Tamper lab
• STM32MP1-Security-Tamper_TAMP.pdf
• STM32G0-System-Tamper-and-backup-registers-TAMP.pdf